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双扫描平台专利技术(E.D.I.T)
E.D.I.T技术为Microtek公司所独有(美国专利号：5574274)，将透射稿与反射稿扫描完美结合，集效能 与品质于一体，解决了以往使用胶片适配器，扫描品质无法达到专业设计需求的不足。通过E.D．I.T专利技 术使扫描仪CCD感光元件能够直接读取扫描胶片数据，最大限度地消除了“牛顿环”这一光学现象以及 图像扭曲。
双镜头技术
双镜头可以将扫描光学分辨率大幅提升，有效的将原稿放大输出。同时采用低色散镜片，保证输入的准确性。
高密度范围
高品质的镜头及反射镜配合超高信噪比的CCD，以专业的扫描软件读取信息，造就了3．5D的密度范围。使 此款扫描仪能够在亮部及暗部都表现出完美的品质。
多片夹结构设计
多种规格的片夹可以配合不同尺寸的胶片原稿，不但使得光线不用透过玻璃，减少了不良影响，而且使得生产率空前提高.
先进的3D悬挂防震系统
由于在高分辨率扫描时，轻微的震动也、会对扫描结果造成不良影响，所以我们开发了3D悬挂防震系统。即使在扫描过程中，不小心碰撞了桌台，也不会对扫描结果造成影响。
先进的温控系统
为了进一步降低工作时的CCD温度，增加信噪比，MICROTEK采用了先进的温控系统，对CCD降温，保证了扫描仪有良好的密度范围和色彩的准确性。
高可靠性及完善的售后服务
扫描仪每一部件的精挑细选及生产的严格控制，以ISO9001的标准对各个环节有效的管理。同时完善的售后服务系统为广大用户使用提供了可靠的保证，并且在中国已经得到了认可。
