XRF膜厚仪就是利用XRF荧光光谱仪对金属镀层的厚度检测的设备，金属镀层测厚仪XRF具有快速测试，操作简单，测试结果准确等优势，是电镀加工及下游企业的质量管控的有效分析手段。EDX2000A是天瑞仪器研发生产的一款性能佳，配置好的一款XRF镀层测厚仪器。

硬件配置
采用Fast-SDD探测器,高达129eV分辨率,能 地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。
搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。
高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动, 快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。
设计亮点
上照式设计，可适应多异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，满足微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，大大提高测样效率。自带数据校对系统。

元素分析范围从(S)到（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
温度适应范围为15℃至30℃。
: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压。

通过X射线激发各种物质（如Mo、Ag、Mn）的特征X射线，然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性，测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片（或者对比样）对比得出各物质的厚度，这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。而各种物质的强度增加，厚度值也增加。

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