NIDEK高精度平坦度测试仪FT-17/晶片平坦度检测仪
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产品详情
“NIDEK高精度平坦度测试仪FT-17/晶片平坦度检测仪”参数说明
是否有现货: | 是 | 机械类型: | 测试仪 |
自动化程度: | 全自动 | 新旧程度: | 8成新 |
作用对象: | 玻璃 | 控制形式: | 程序控制 |
型号: | FT-17 | 产量: | 1000000 |
“NIDEK高精度平坦度测试仪FT-17/晶片平坦度检测仪”详细介绍
一,FT-17是∮130mm以下各类晶片平坦度测试装置,该装置采用激光斜射干涉技术
二,可设定1,2,3,4,5μm/fringe的干涉条纹。
三,接入标准的解析装置,以表示各类晶片的平面度。测定结果,可用各种测定值,等高线图,俯视图,断面图等图表示。
四,无须校准
五,以专用解析装置控制程序使操作变得容易
1,测定方法:光波干涉方法(倾斜入射)
2,光源:半导体激光(655nm,3mw)
3,样片尺寸:∮130mm以下,但是平坦度在∮100mm以下
4,样片厚度:2000um以下(平坦度测定250um-1000um以下)但是承受台 10mm、其他厚度请以其他方式商谈
5,样片的种类:晶片(硅、化合物、酸化物、玻璃)金属片、磁碟(铝、玻璃)模具等 镜面及非镜面(除反射率低的非镜面)
6,样片的倾斜角度:比垂直向前倾斜8度
7,干涉计设定感度:1,2,3,4,5μm/线距
8,测定范围:线距感光的30倍(线距状况、有比镜片尺寸等30倍以下的场合)
9,摄像光学比:3倍以上
10, 电源:AC100V
Nidek高精密平面度检测仪, 适用于透明晶体物体(如蓝宝石晶片等)和LED外延晶片、芯片的检测。
其应用不仅局限于对蓝宝石衬底单面/双面的表面平坦检测,而且更多地应用于对外延之后,外延层表面品质、TTV等的检测和评估。
在电脑显示屏上,它可自动生成三维立体的表面彩色效果图,以帮助人们清楚细微地、直观地了解和掌握对象物表面层生长的情况。
测试项目
吸附:GFLR、GF3D、GF3R、TV、GBIR、TAPER、TAng、SFLR、SFLD、SFQR、SF3R、SF3D、SBIR、SBID
非吸附:BOW、SORI、整体应力、局部应力
可测试晶片种类
切割片、研磨片、抛光片、外延片、磊晶片
可选配光刻区域模拟软件、应力分析软件等
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