薄膜测厚仪

产品简介 »

　　主要用途及特点：
　　本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）、读数直观，使用方便。执行GB／T6672-2001标准。

　　技术参数：
　　测量范围：0-1㎜　　　
　　分度值：0.001㎜　　　　
　　上测头曲率半径：15～50㎜　
　　测头对试样施加负荷：0.1～0.5N