镀层测厚仪（EDX8000）

产品简介 »

　　高精密定位测量系统，用于RoHS检测和镀层检测。在镀层检测中，该款仪器可以惊奇地逐点测试被测对象，并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱。
　　
　　一、技术指标：
　　
　　分析精度：0.05％　
　　分析含量范围：1PPM-99.99％　
　　测量元素：从硫至铀等75种元素
　　测量对象：粉末、固体、液体
　　分析电镀溶液中金属离子浓度
　　可分析10层以上的镀层
　　测试镀层最薄至0.005um
　　步进最小距离：0.01mm
　　测量时间：60～300秒
　　工作温度：15～30°C
　　相对湿度：＜70％
　　重量：30KG
　　工作电压：AC 110／220V
　　
　　二、配置：
　　
　　单样品腔计
　　算机、喷墨打印机
　　硅针半导体探测器　
　　放大电路　
　　高低压电源　
　　X光管　
　　双激光定位系统　
　　50至100倍物体放大