作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光光谱仪，新款EDX9000A配置了基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件。FP软件是合金分析的 条件之一，FP算法能大幅降低合金样品中各金属元素间的吸收增 应，从而来满足客户对于各类复杂合金样品的元素分析需求。

 

EDX9000A结合了新的样品激发和信号检测技术，使得它的分析性能可以与实验室分析结果相媲美。通过配备不同滤光片和光路准直器，高功率X射线管，以及美国Amptek的SDD硅漂移检测器，EDX9000A实现了优化的硬件组合。

选择金属合金分析仪时，客户通常会重点关注测试准确性，分析速度和设备耐用性，而EDX9000A是对上述三点指标的 体现。同时，该光谱仪能同时对多种不同类型的合金进行快速定性定量分析，包括：

镁合金 铝合金 钛合金 高合金钢 中低合金钢 工具钢 贵金属

钴合金 镍合金 铜合金 锌合金 贵重合金 黄铜 青铜 焊锡 等

EDX9000A操作简单，分析性能出色，还可拓展到以下应用

>涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等

>电镀液元素分析

>催化剂贵金属元素分析

 

>仪器参数

仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm

超大样品腔：460mm*310mm*95mm

半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm

仪器重量: 45Kg

元素分析范围：Na11-U92硫到

可分析含量范围：1ppm- 99.99%

探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器

多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器

X光管：50W高功率 窗光管

高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护

电压：220ACV 50/60HZ

环境温度：-10 °C 到35 °C

 

仪器配置

>标准配置	>可选配置
纯Ag初始化标样	交流净化稳压电源
真空泵	合金标样
样品杯
USB数据线
电源线
测试薄膜
仪器出厂和标定报告
保修卡

 

作为一款专业为合金元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000A兼顾了耐用性，易于操作和 。其显著优势主要有

？ ---全程无损分析，一到三分钟即可出结果（可实时刷新测试结果）

？ 准---强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体元素间吸收增 应，并同时考虑到不同基体对光谱强度变化的干扰，把测试准确度提高到了新的水平

？ 稳---使用 的硅漂移检测器SDD可得到 的测试稳定性和长期重复性，该款检测器可在相同样品激发条件下获得 的光谱强度（计数率CPS）。 的多道分析器DPP可实现超过100,000 cps的线性计数速率而同时保证 的光谱分辨率，通常 130 eV，以 地分离不同元素的光谱。与传统的EDXRF台式仪器相比，EDX9000A光谱仪可以全功率运行，因此实现了 的测试表现

？无需消耗昂贵的氩气或者氦气， 的降低了仪器的使用和维护成本

？无需或者很少的样品制备，通常简单的抛光样品表面后即可上机测试

？不需要每天标定仪器，开机即可检测，大大提高生产效率，并降低了对标准样品的依赖

？多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作 稳定、

？特别设计的光路和真空系统提高了轻元素的测试灵敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)

？友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像

？八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差

？高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位

 

 

功能强大而界面友好的测试软件

界面清晰易用。一键测试，简单易用，无需手动选择工作曲线，软件自动匹配样品基体，即使非专业技术人员也能快速掌握仪器使用

的基本参数FP和经验系数法EC的 结合不仅可以分析高纯合金，也可以对基体复杂的多杂质样品进行定性定量分析。FP参数算法的应用，也使得仪器对标准样品的依赖度大大降低。

>一键初始化仪器，基体自动匹配

>自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比

>光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增 应影响

>光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度

>可实时刷新测量结果

>简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线

>可定制化测试报告，一键打印