PHL 应力双折射测量仪WPA-NIR
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产品详情
“PHL 应力双折射测量仪WPA-NIR”参数说明
| 是否有现货： | 是 | 品牌： | PHL |
| 加工定制： | 其它 | 类型： | 其它 |
| 测量范围： | 0-425nm | 适用范围： | 光学零件,透明成型品,透明树脂材料 |
| 型号： | WPA-200-L | 商标： | PHL |
“PHL 应力双折射测量仪WPA-NIR”详细介绍
PHL 应力双折射测量仪WPA-NIR基本介绍
硫系，红外树脂等材料对可见光不透过，这样的样品残余应力评估很难实现，为此Photonic Lattece 专门研制了WPA-NIR双折射测量仪，采用850nm或940nm波长，能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布，安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View，可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场
PHL 应力双折射测量仪WPA-NIR性能特点
红外波长的双折射/相位差面分布测量
- 硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估
- 小型、簡単操作、高速測量
- WPA-NIR能高速的测量/分析波长为850nm或940nm的双折射分布
- 安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View
- 可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据
- 可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场
PHL 应力双折射测量仪WPA-NIR使用说明
- 高速测量面的双折射/相位差分布
- NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息
- 测量数据的保存/读取简单快捷
- 全部的测量结果都可以做保存/读取，易于跟过去的测量结果做比较等
- 丰富的图形创建功能
- 可以自由制作线图形和直方图
- 测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出
PHL 应力双折射测量仪WPA-NIR采购须知
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