Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K0/白光干涉仪/表面形貌/粗糙度/三维轮廓等测量系统
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产品详情
“Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K0/白光干涉仪/表面形貌/粗糙度/三维轮廓等测量系统”参数说明
| 是否有现货： | 是 | 加工定制： | 是 |
| 类型： | 白光干涉仪 | 品牌： | 布鲁克 bruker |
| 品种： | 云纹干涉仪 | 商标： | Bruker |
| 产量： | 100 |
“Bruker三维光学表面轮廓仪-ContourGT-K0/白光干涉仪/表面形貌/粗糙度/三维轮廓等测量系统”详细介绍
布鲁克 (Bruker) 是表面测量和检测技术的全球 ，服务于科研和生产领域。新一代白光干涉仪ContourGT系列结合了 的64位多核操作和分析处理软件，专利技术白光干涉仪（WLI）硬件和 的操作简易性，是历年来来 的3D光学表面轮廓仪系统。该系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围，样品安装灵活，且具有业界 的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质量控制应用中， 广泛使用和 直观的3D表面计量平台。
应用：
对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等，提供全方位非接触式测量方案，样品从小至微米级别的微机电器件（MEMS），大到整个引擎部件，都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓等 数据
特征：
业界 的垂直分辨率， 大的测量性能；
0.5~200倍的放大倍率；
任何倍率下亚埃级至毫米级垂直测量量程；
高分辨率摄像头；
测量硬件的 设计，增强生产环境中的可靠性和重复性；
较高的震动的容忍度和GR&R测量的能力
专利的自动校准能力；
多核处理器下运行的Vision64软件，大大提高三维表面测量和分析速度
数据处理速度提高几十倍；
分析速度提高十倍；
无以伦比的大量数据无缝拼接能力；
高度直观的用户界面，拥有业界 的实用性，操作简便和分析功能强大
优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程；
特的可视化操作工具；
可自行设置数据输出的界面；
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