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认证信息: 资质认证

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串行数据分析仪(示波器)出租

图片审核中 串行数据分析仪(示波器)出租
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串行数据分析仪(示波器)出租

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起批量 1
供货总量 1台
产地 国内外
发货期 自买家付款之日起1天内发货
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Peter 先生
  • 135****5369
  • 产品详情

“串行数据分析仪(示波器)出租”参数说明

是否有现货: 认证: ISO 9001 和 ISO 14001
品牌: 力科lecroy 加工定制:
通道数: 4 结构: 台式
种类: 数字荧光示波器 应用: 串行数据测试
带宽: 45GHz 采样模式: 实时采样
采样率: 120GS/s 记录长度: 512 mpts/CH (2 CH
波形捕获率: 80 GS/s on 2 CH 外形尺寸: 15.3英寸宽屏
型号: Sda 845zi-a 规格: 45g、4通道示波器
包装: 纸箱 特点: 租赁
产量: 1

“串行数据分析仪(示波器)出租”详细介绍

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【LeCroy示波器SDA 845Zi-A】简介

串行数据分析仪SDA845Zi-A集合了带宽(45 GHz)和采样率(120 GS/s)具有较高的信号保真性能。提供强大的波形分析工具集。可以将多种分析能力组合到一起形成一个独立的,关联的显示,如模拟信号,协议解码,眼图,测量参数,以及其它相关的信息等均能够被实时的、肩并肩的提供。提供了针对信号高度集成和全面的眼图及抖动分析。

 

【LeCroy示波器SDA 845Zi-A】主要特性

高达45 GHz带宽和120 GS/s采样率

的示波器用户界面

低抖动测量噪底和优异的时基稳定性

完整的串行数据分析,调试,验证及一致性工具

集成的50 Ω 1 MΩ输入实现了真正的连接和探测灵活性

集成的标准和用户自定义测量和函数功能提供了很好的分析能力

多链路串行数据眼图,抖动,和串扰分析

实时去嵌,仿真,以及均衡的 性能

软件可以对一系列标准执行自动化一致性测试并生成全面的测试报告,这些标准有:PCI ExpressUSB2, USB 3.0DDR2DDR3SATAMIPI10/100/100 BASE-T10GBASE-THDMI

 

【LeCroy示波器SDA 845Zi-A】规格参数 

主要指标

带宽

45 GHz

存储深度

768 Mpts/Ch

采样率

120 GS/s

输入通道

4

垂直分辨率

8-bit

 

 

 【测试附件、治具一览表】

SFP接口信号测试治具

40Gbps

SFP接口信号测试治具

10Gbps

IEEE测试治具

Lecroy 10M/100M/1000M

IEEE测试治具

Tektronix 10M/100M/1000M

USB2.0一致性测试治具

Host/Divice

USB3.0/3.1一致性测试治具套装

Intel Host/Divice GEN3

PCIE一致性测试治具

PCIE Host/Divice GEN3

 

 【LeCroy示波器SDA 845Zi-A】典型应用 

  • Clock精度测试

测试流程:

1.找准待测试clock信号的测试点;

2.Probe Cable将测试点连接至频谱仪信号采集通道上;

3.频谱仪设置:设置Center Freq.为待测试信号的标准值,Span.设置为100MHz,Count选项中选择1Hz使得测试结果精度为1Hz

4.使DUT正常工作,频谱仪取值Marker:Max.,记录测试结果。

测试方式示意图

 

  

  • Clock时序测试

测试流程:

1.找准待测试clock信号的测试点;

2.Probe Cable将测试点连接至示波器采集通道上;

3.设置示波器测量相关参数;

4.使DUT正常工作,获得clock信号的测试数据。

测试方式示意图 

  

  • I2C测试

测试流程:

1.找准待测试I2Cclockdata信号测试点;

2.将两根probe cable连接在示波器信号采集口上,设置其delay0

3.Probe Cable的探针接在测试点上;

4.使DUT正常工作,获得I2Cclockdata信号的测试数据。

测试方式示意图

 

  

  • SPI时序测试

测试流程:

1.找准待测试clock信号的测试点;

2.将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay0

3.Probe Cable的探针接在测试点上;

4.使DUT正常工作,获得SPI信号的测试数据。

测试方式示意图

 

  

  • MII测试

测试流程:

1.找准待测试MDC/MDIO信号的测试点;

2.将两根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay0

3.Probe Cable的探针接在测试点上;

4.使DUT正常工作,获得MDC/MDIO信号的测试数据。

测试方式示意图

 

  

  • SGMII测试

测试流程:

1.找准待测试SGMIIRX信号测试点;

2.将差分probe cable连接在示波器信号采集口上;

3.将差分Probe Cable的探针接在测试点上;

4.使DUT正常工作,获得SGMII信号的Eye Pattern测试数据。

测试方式示意图

 

  

  • DDR2测试

测试流程:

1.找准存储模块的DQ_nDQS_nAD_nRAS/CSnWen测试点;

2.将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay值为0

3.Probe Cable的探针接到测试点上;

4.在示波器设置中选择QualiPHY,并根据实际测试项目进行设置;

5.使DUT正常工作,使用电脑通过console cable使得DUT进行数据通信以保证DDR模块有数据传输;

6.运行QualiPHY,获取测试数据。

测试方式示意图

 

  

  • DDR3测试

测试流程:

1.找准存储模块的DQ_nDQS_nAD_nRAS/CSnWen测试点;

2.将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay值为0

3.Probe Cable的探针接到测试点上;

4.在示波器设置中选择QualiPHY,并根据实际测试项目进行设置;

5.使DUT正常工作,使用电脑通过console cable使得DUT进行数据通信以保证DDR模块有数据传输;

6.运行QualiPHY,获取测试数据。

测试方式示意图

 

 

  • SFP+测试

测试流程:

1.SFP Connector Assembly CableDUT和示波器连接;

2.使DUT正常工作,通过console cable读取SFP+模块的基本信息达到测试点有信号通信的目的;

3.获取SFP+信号的Eye Pattern测试数据。

测试方式示意图

 

  

  • QSFP测试

测试流程:

1.QSFP Connector Assembly CableDUT和示波器连接;

2.使DUT正常工作,通过console cable读取QSFP模块的基本信息达到测试点有信号通信的目的;

3.获取QSFP信号的Eye Pattern测试数据。

测试方式示意图

 

  

  • PCIe测试

测试流程:

1.找准待测试PCIeTXRX信号测试点;

2.将差分probe cable连接在示波器信号采集口上;

3.将差分Probe Cable的探针接在测试点上;

4.使DUT正常工作,获得PCIe_RX/TX信号的Eye Pattern测试数据。

测试方式示意图

 

  

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