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以太网信号测试
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HDMI怎么测试? HDMI1.4/HDMI2.0

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HDMI怎么测试? HDMI1.4/HDMI2.0

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“HDMI怎么测试? HDMI1.4/HDMI2.0”参数说明

是否有现货: 认证: ce
品牌: tektronix/泰克 加工定制:
通道数: 4 种类: 数字荧光示波器
应用: 电压的测量 带宽: 1GHz以上
采样模式: 实时采样 采样率: 120G
外形尺寸: 98*97*105 重量: 35KG
型号: SDA845ZI 规格: 45Ghz
商标: 泰克 包装:

“HDMI怎么测试? HDMI1.4/HDMI2.0”详细介绍

     HDMI怎么测试? HDMI测试方法, HDMI测试方案 HDMI测试用例,HDMI1.3 ,HDMI1.4,HDMI2.0

背景技术:

为了满足人们对高清世界的不断追求,显示接口技术不断发展,现在配置HDMI(High Definition Multimedia Interface)接口的电子设备应用非常广泛,基本上已经发展为国际上***的多媒体接口标准。因而如何测试HDMI高速信号也成为各设备厂商的迫切需求。针对这一需求,目前各大示波器厂商也推出了针对HDMI的测试解决方案。

然而由于HDMI信号的电平标准为TMDS(Transition Minimized Differential signal),其发送端为开漏输出,必须由外部提供上拉端接。故现有的测试方案都是在有源差分探头内提供上拉端接,而此探头为专用探头,必须重新购买。

现有方案:需用到HDMI转SMA夹具,低速信号小板,SMA线缆,有源差分探头,稳压源,示波器,连接示意图如图1所示(以测试一个通道为例)。

方案缺点:

A 整套测试方案中至少需要2个专用的带上拉端接的SMA有源差分探头,通用性差,成本高;

B 整套测试方案需要用到有源差分探头,其探头内部放大器的线性和带宽会引起信号一定程度的失真;

C测试信号时需依次连接测试夹具、低速信号小板、SMA线缆、稳压源、有源差分探头,连接非常繁琐,且整套测试设备数量多,占地面积大。

技术实现要素:

本发明的目的在于提供一种HDMI有源端接测试夹具及测试方法,该夹具不需有源差分探头,大大降低了成本;且通过将各模块集中到一块PCB板上,简化了连接步骤,缩小了体积。

为实现上述目的,本发明的技术方案是:一种HDMI有源端接测试夹具,包括HDMI公头、TMDS高速信号的端接上拉模块、低速信号模块、阻抗变换模块、SMA接口,所述HDMI公头用于连接被测试源端设备,所述TDMS高速信号的端接上拉模块用于模拟接收设备TMDS高速信号端接上拉到3.3V的功能,所述低速信号模块用于实现被测试源端设备能够稳定地检测到HDMI有源端接测试夹具的插入,以及被测试源端设备与HDMI有源端接测试夹具的EEPROM通信;所述阻抗变换模块用于保证TMDS高速信号端接上拉到3.3V的同时,TMDS高速信号还能够无反射的继续向后传播,所述SMA接口用于连接示波器。

在本发明一实施例中,所述TMDS高速信号的端接上拉模块、低速信号模块、阻抗变换模块均设置于一测试夹具PCB上,且该测试夹具PCB与HDMI公头固定连接。

在本发明一实施例中,所述HDMI公头采用标准A型接口夹板式HDMI公头,以夹在所述测试夹具PCB上,并通过焊接固定。

在本发明一实施例中,所述TMDS高速信号的端接上拉模块包括设置于测试夹具PCB上且依次连接的Micro USB接口、5V转3.3V LDO模块、滤波电路,以实现3.3V电源输出,供TMDS高速信号中间进行上拉端接的使用。

在本发明一实施例中,所述阻抗变换模块由等长的各特征阻抗为50Ω的TMDS高速信号PCB走线组、若干100Ω上拉电阻、若干50Ω串联电阻组成若干TMDS高速信号通道,所述TMDS高速信号PCB走线用于连接HDMI公头和SMA接口,以实现将经所述HDMI公头输入的TMDS高速信号传输给示波器;

 高速示波器有8Ghz/13GHz/45GHz等多种带宽,型号有泰克DPO系列力科SDA些列,**其单通道采样率为120G,双通道为80G,4通道可达到40G;存储深度为768Mpts ,捕获波形能力非常强大;垂直通道测量量程可达到2mV/格~1V/格,测试精度更高;此示波器配备了25Ghz4Ghz,6Ghz差分探头,1G单端探头,SFP+治具,QSFP治具,USB测试治具,IEEE测试治具,10G光探头等;软件方面配置了主流的高速串行信号一致性分析软件,PCIE2.0/3.0、USB2.0/3.0/3.1DDR3/4/4L10G KISerdes、SATA2.0/3.0、HDMI、QSGMII、SGMII、MII,示波器带一致性分析软件,能够快速分析出百万级别数据的电器参数(jitter,眼图);适应于研发阶段样机的信号完整性调试,以及小批量阶段信号完整性验证测试;

 

 【LeCroy示波器SDA 845Zi-A】简介

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SDA 845Zi-A是美国力科公司的一款业界**的串行数据分析仪。此示波器配备了25G,4G差分探头,1G单端探头,SFP+及USB测试治具,10G光探头等;软件方面配置了主流的高速串行信号一致性分析软件,列如PCIE2.0/3.0、USB3.0、DDR3、10G的SFI信号;能够快速分析出百万级别数据的参数(jitter,眼图);现此设备主要应用于10G光模块来料检测,研发阶段样机的信号完整性调试,以及小批量阶段信号完整性验证。

【LeCroy示波器SDA 845Zi-A】主要特性

  • Eye Doctor II**信号完整性分析工具提供了杰出的如夹具反嵌、预加重、通道、均衡等信号完整性分析功能
  • SDA II串行数据分析软件提供强大的眼图抖动测试分析能力
  • X-Stream II流式结构——速度快于其它示波器10-100倍
  • 具备*深的测量参数工具箱、函数运算工具箱
  • 优越的瞬时响应能力,即使在**采集存储数据量情况下响应速度仍旧很快
  • 独有的LSIB接口可以让示波器与PC之间的数据传输速率高达325Mpts/s
  • 15.3英寸宽屏WXGA彩色触摸屏显示器
  • 带宽**可升级到45GHz,保护您的投资
  • 串行数据分析仪和磁盘驱动分析仪可提供全套高速串行数据分析以及磁盘驱动测试解决方案
  • 低速串行总线触发和解码解决方案(如I2C,SPI,UART-RS232,CAN,LIN,FlexRay等)
  • WaveScan**波形特征搜索能力
  • 同时提供ProBus和ProLink接口各四个,具备50ohms和1M ohms输入
  • 力科独特的串行数据分析结果摘要视图,在屏幕上同时显示眼图、TIE、浴盆曲线和抖动直方图
  • 电缆反嵌,SDA可以消除电缆对测试系统的影响
  • 使用全部存储深度创建眼图,实现**数据量的统计分析
  • 眼图显示速度比其它解决方案快100倍
  • 使用串行触发,以高达3.125Gb/s的速度触发80位码型
  • 同时在*多4条通道上解码8b/10b数据
  • 配置软件PLL,满足任何标准要求或自定义要求
  • 标配多种常用串行数据标准眼图模板,且模板可以自定义设计
  • 独特的眼图轮廓(IsoBER)显示能力及模板误码定位功能
  • 完整的数据相关性抖动DDj以及码间干扰抖动ISI分析能力并配以直方图、绘图显示
  • 完整的随机抖动Rj+固有不相关抖动Buj观察,包括直方图、频谱图及追踪图
  • 完整的周期性抖动Pj分析及时域图示(FFT反变换)
  • 提供频谱方法和NQ-Scale两种抖动分解模型

【LeCroy示波器SDA 845Zi-A】规格参数

带宽

45GHz

标准内存

64 Mpts – 512Mpts

**存储深度

3.125Gbps

**采样率

120GS/s

输入通道

4

垂直分辨率

8-bit

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

【LeCroy示波器SDA 845Zi-A】探头附件

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【LeCroy示波器SDA 845Zi-A】提供测试项目

√.一致性分析测试:DDR2,DDR3,SFI,PCIE,USB2.0,USB3.0,IEEE,DisplayPort,HDMI,SAS,MIPI,SATA,DVI,10G KI,QSFP+等

√.低速串行总线触发和解码解决方案:I2C,SPI,SSPI,RS232,UART,CAN,LIN,FlexRay

√.常用串行数据标准眼图模板,且模板可以自定义设计

√.完整的数据相关性抖动DDj以及码间干扰抖动ISI分析能力并配以直方图、绘图显示

√.完整的随机抖动Rj+固有不相关抖动Buj观察,包括直方图、频谱图及追踪图

√.完整的周期性抖动Pj分析及时域图示(FFT反变换)

√.提供频谱方法和NQ-Scale两种抖动分解模型

 

LeCroy示波器SDA 845Zi-A】波形预览

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   关于我们

   上海博达科技集团于1994年成立,专注于数据网络产品的研发、生产和销售。坐落于上海浦东张*高科技园区,拥有占地10000多平米的现代化研发基地,是中国*早的专业数据网络产品制造商之一,经过近二十多年的积累,内部成立了符合第三方认证的正规实验室.

   主营业务1.仪器及EMC场地出租业务,仪器比较齐全品牌覆盖Agilent/Keysight、HP、Tektronix、Spirent、LeCroy、Litpoint、ADVANTEST、FLUKE,KIKUSUI等国内外知名品牌。产品线包括:频谱分析仪、网络分析仪、高速示波器、EMC测试仪、安规测试仪、高低温测试仪、振动测试仪、综合测试仪、信号分析仪等。

 详细如下

  • 电子物料测试设备:LCR电子测试仪、WAYNE KERR LCR METER数字电桥、晶体管特性仪、晶体阻抗计、电解电容漏电流测试仪等;
  • 高速信号测试设备:泰克Tektronix示波器(200M-1GHz)、力科LeCroy示波器(4GHz-45GHz)、网络分析仪、频谱分析仪等;
  • 电源测试设备:可编程交流电源AC Power Source、可编程直流电子负载DC ELECTRONIC LOAD、 功率仪、可编程直流电源Programmable DC Power Supply、万用表DIGITAL MULTIMETER、噪声系数分析仪等;
  • 安规测试设备:安规综合测试仪AC/DC/IR/SC HIPOT TESTER;
  • 通讯设备流量测试:iTester网络测试仪、smartbit网络测试仪、POE测试仪(sifos);
  • 环境可靠性测试(场地)设备:高低温交变湿热试验箱、振动冲击试验台;
  • 电磁兼容(场地)设备:Radiated Emission辐射骚扰测试-3m标准EMI**实验室、Conducted Emission传导骚扰测试-AFJ原装进口电磁干扰测试机、SURGE浪涌冲击抗扰度测试、EFT电快速瞬变脉冲群抗扰度测试、Damped oscillation阻尼振荡波抗扰度测试、ESD静电抗扰度测试、PFMF工频磁场抗扰度测试、CS射频场感应的传导骚扰抗扰度测试、周波跌落发生器Cycle Sag Simulator;

   主营业务2.硬件测试外包服务,我们可以完成可靠性测试(如,各种高低温实验,湿热测试,振动,冲击测试)、EMC测试(包括(辐射骚扰测试(RE)、传导骚扰测试(CE)、静电抗扰度测试(ESD)、浪涌冲击抗扰度测试(SURGE)、交直流电源暂降、暂时中断抗扰度(DIP)、电快速瞬变脉冲群抗扰度测试(EFT)、阻尼振荡波抗扰度测试(Damped oscillation)、工频磁场抗扰度测试(PFMF)、射频场感应的传导骚扰抗扰度测试(CS).信号完整性测试DDR2、DDR3、SFI、PCIE、USB2.0、USB3.0、IEEE、HDMI、MIPI、SATA、DVI、10G KI,QSFP+等信号质量测试。

我们是一支专业的队伍,可以为您提供更好的服务。
 

 

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