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浦东电路板高速信号 SPI时序测试服务

图片审核中 浦东电路板高速信号 SPI时序测试服务
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浦东电路板高速信号 SPI时序测试服务

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“浦东电路板高速信号 SPI时序测试服务”参数说明

专利分类: 专利号:
信号项目(e602): Mii测试(th602) 信号项目(b602): Clock测试(th602)
信号项目(c602): I2c测试(th602) 信号项目(g602): DDR测试(th602)
信号项目(d602): Spi 测试(th602) 信号项目(f602): SGMII测试(th602)

“浦东电路板高速信号 SPI时序测试服务”详细介绍

介绍

目的

信号完整性测试,是作为提高产品电气特性方面性能的参考依据主要对主板上的COCLK,SPI, MDIO, PCIe, DDR3,RGMII,SFP+QSFPI2C项目进行测试分析

 

 

SPI 测试

SPI时序测试方法

测试示意图

测试流程

  1. 找准待测试clock信号的测试点;
  2. 四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay为0;
  3. Probe Cable的探针接在测试点上;

使DUT正常工作,获得SPI信号的测试数据。

 

测试结果

Description

Symbol

Spec.

Unit

Test Value

Min.

Max.

Clock hight,Low Time for all instruction except for Read Data (O3h)

tCLH

4

-

ns

30.1

tCLL

4

-

ns

29.7

Output Diable Time

tSHQZ

-

7

ns

 

Clock Low to Output Vaild

tCLQV

-

7

ns

4.30

Output Hold Time

tCLQX

2

-

ns

 

/CS Deselect Time (for Erase or Program)

tSHSL

50

-

ns

1076.5

/CS Not Active Setup Time relative to CLK

tSHCH

3

-

ns

30.5

/CS Active Hold Time relative to CLK

tCHSH

3

-

ns

 

Clock Fall Time peak to peak

tCHCL

0.1

-

V/ns

4.186

Clock Rise Time peak to peak

tCLCH

0.1

-

V/ns

3.688

Data In Hold Time

tCHDX

3

-

ns

33.6

Data In Setup Time

tDVCH

2

-

ns

28.1

/CS Not Active Hold relative to CLK

tSLCH

5

-

ns

59.6

/CS Not Active Hold Time relative to CLK

tCHSL

5

-

ns

34.8

 

测试波形图

SPI

tCHSH

 

 

扩展知识-名词解释

SPI:串行外设接口(Serial Peripheral Interface),高速的,全双工,同步的通信总线。测试主要分析clockdata_indata_outCS#之间的时序;

SMI:串行管理接口(Serial Management Interface),也被称作MII管理接口(MII Management Interface),包括MDCMDIO两条信号线。测试主要分析MDCMDIO之间的时序;

DDR3:双倍速率同步动态随机存储器(Dual Data Rate),其全称为DDR SDRAM,而DDR3则是DDR的第三代产品。测试主要分析DDR3DQDQSADRASCAS等时序;

PCIe:高速串行计算机扩展总线标准(peripheral component interconnect express),速串行点对点双通道高带宽传输。测试主要分析PCIe_TXPCIe_RXEye Pattern

SGMII:串行千兆媒体独立接口(serial gigabit media independent interface),SGMIIMACPHY之间的串行接口。测试主要分析SGMII_RX SGMII_TXEye Pattern

SFP+:可插拔光学收发器接口,传输速率为10.3125Gbps。测试主要分析SFP+_TXEye Pattern

QSFP:四通道的SFP+接口的可插拔光学收发器接口,传输可达到40Gbps以满足更高速率的要求。测试主要分析QSFP_TXEye Pattern

I2CInter-IC bus,共两条连续总线,SCLSDA。测试主要分析SCLSDA之间的时序。

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