波兰INFRAMET面源黑体校准源BLIQ
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产品详情
“波兰INFRAMET面源黑体校准源BLIQ”参数说明
是否有现货: | 否 | 型号: | Bliq-4D |
发射率: | 0.97±0.01 | 稳定时间: | <50秒 |
发射面尺寸: | 100X100mm | 设置值和分辨: | 1 mk |
稳定性: | ±2 mk @ δt=10℃ | 温度范围: | -40℃…100℃ -40℃…170℃(可选) |
温度均匀性1: | <0.002X(t-25)+0.02℃ | 升温速率: | +0.40℃/秒.@25℃ +0.40℃/秒.@25℃ 降温速率 |
“波兰INFRAMET面源黑体校准源BLIQ”详细介绍
波兰INFRAMET面源黑体校准源BLIQ基本介绍
BLIQ黑体是使用三个温度调节器构建的。 首先,标准Peltier元件能够在约0ºC至约100ºC范围内实现准确的温度调节。 ,液体冷却器用于将黑体温度降低到零度以下。 ,当温度超过100ºC时,可选加热器进行调节温度。
BLIQ黑体附有专用罩。 当使用干燥氮气填充时,该罩可以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝的影响。
BLIQ黑体的特点是具有优异的温度分辨率、时间稳定性、温度均匀性和温度不确定性。所有这些功能使得BLIQ黑体被用作测试/校准热成像仪/ IR FPA模块系统中的红外辐射源的理想选择,或 实验室的温度标准。
BLIQ黑体附有专用罩。 当使用干燥氮气填充时,该罩可以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝的影响。
BLIQ黑体的特点是具有优异的温度分辨率、时间稳定性、温度均匀性和温度不确定性。所有这些功能使得BLIQ黑体被用作测试/校准热成像仪/ IR FPA模块系统中的红外辐射源的理想选择,或 实验室的温度标准。
主要事项:
BLIQ黑体作为TCB系列特殊版本,可以弥补TCB其他型号的不足:大尺寸面源,需要降温到零下-40℃的温度。BLIQ也有一些限制条件:
需要连接BLIQ黑体的 罩(Inframet可提供)。 覆盖罩须装充有干燥的氮气,以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝。 用户需要提供干燥的氮气。
罩不能有任何漏洞以免潮湿热气体进入罩内。测试成像仪的光学镜头必须完全覆盖在罩中的输入孔中。
罩长必须至少等于黑体发射面的大小。这意味着被测试的成像仪不能位于距BLIQ黑体发射器很短的距离。
BLIQ黑体作为TCB系列特殊版本,可以弥补TCB其他型号的不足:大尺寸面源,需要降温到零下-40℃的温度。BLIQ也有一些限制条件:
需要连接BLIQ黑体的 罩(Inframet可提供)。 覆盖罩须装充有干燥的氮气,以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝。 用户需要提供干燥的氮气。
罩不能有任何漏洞以免潮湿热气体进入罩内。测试成像仪的光学镜头必须完全覆盖在罩中的输入孔中。
罩长必须至少等于黑体发射面的大小。这意味着被测试的成像仪不能位于距BLIQ黑体发射器很短的距离。
波兰INFRAMET面源黑体校准源BLIQ性能特点
温度范围宽;
非常好的温度稳定性:±2mK(标准)和1 mK(可选);
高速,易于PC控制;
抗EMI(电磁干扰)性能非常高(黑体与控制器集成)。
非常好的温度稳定性:±2mK(标准)和1 mK(可选);
高速,易于PC控制;
抗EMI(电磁干扰)性能非常高(黑体与控制器集成)。
波兰INFRAMET面源黑体校准源BLIQ技术参数
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