EDX2000A能量色散X荧光镀层测厚仪，这台全自动微区光谱膜厚测试仪，无论平面、凹凸、拐角还是弧面，任何简单或复杂的样品，它都能迅速 地完成对焦分析。在半导体、芯片及PCB等行业，它满足了非接触微区镀层厚度测试的严格需求。

通过自动化的三维移动，X轴、Y轴、Z轴的协同运作，配合双激光定位和保护系统，使得测试 。无论在电镀行业、电子通讯，还是 新能源、五金卫浴，甚至是电器设备汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等，其应用领域广泛。

高硬件配置确保了性能，Fast-SDD探测器的129eV分辨率，能 解析每个元素的特征信号。对于复杂底材和多层复杂镀层，它同样能轻松应对。大功率X光管则提供了稳定的信号输出和激发，降低了仪器故障率。

X、Y、Z轴的高精度自动化联动，使得对微小异型（如弧形、拱形、螺纹、球面等）测试点的定位 迅速。上照式设计使得它能适应异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。 可变焦高精摄像头与距离补正系统的结合，满足了微小产品、台阶、深槽、沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台实现了微小密集型的多点测试，大大提高了测样效率。

此外，它还自带数据校对系统，确保测试数据的准确性。人性化的软件界面让操作便捷，曲线上的中文备注让操作直观。仪器硬件功能的实时监控，让使用放心。

镀层可测范围：从Li到U之间的元素，元素分析可以从Al到U之间，配置FAST SDD探测器，分辨率高

同时分析24种元素，5层镀层，可以分析0.005微米到50微米之间的金属镀层厚度

镀层分析精度RSD小于3%，检测时间10秒左右，多次测量含量重复性达0.5%， 测试面积0.02平方毫米