X荧光膜厚分析仪 金属膜厚分析仪 光谱膜厚分析仪
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产品详情
“X荧光膜厚分析仪 金属膜厚分析仪 光谱膜厚分析仪”参数说明
是否有现货: | 是 | 类别: | X射线测厚仪 |
品牌: | 天瑞仪器 | 测量产品: | 镀层厚度 |
显示方式: | 全中文液晶 | 型号: | Edx600 plus |
规格: | 上照式 | 商标: | Skyray |
包装: | 木箱包装 |
“X荧光膜厚分析仪 金属膜厚分析仪 光谱膜厚分析仪”详细介绍
EDX600PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验,专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷,无需液氮,无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行 检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空 、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。
X荧光膜厚分析仪 金属膜厚分析仪 光谱膜厚分析仪性能特点
EDX600PLUS能将不同的元素准确解析,针对多镀层与复杂合金镀层的测量,有着不可比拟的优势。
在准直器的选择上,EDX600 PLUS也有着很大的优势,它可以搭配的准直器小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的准直器得到的超小光斑,让 小样品的测量也变得游刃有余。
在准直器的选择上,EDX600 PLUS也有着很大的优势,它可以搭配的准直器小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的准直器得到的超小光斑,让 小样品的测量也变得游刃有余。

X荧光膜厚分析仪 金属膜厚分析仪 光谱膜厚分析仪技术参数
元素分析范围从硫(S)到 (U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源

X荧光膜厚分析仪 金属膜厚分析仪 光谱膜厚分析仪使用说明
人性化的软件界面,让操作变得便捷。
曲线的中文备注,让您的操作易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用放心。
曲线的中文备注,让您的操作易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用放心。

X荧光膜厚分析仪 金属膜厚分析仪 光谱膜厚分析仪采购须知
天瑞仪器提供上门安装和仪器的操作培训指导工作,物流送货上门。整机质保一年,并在质保期满后提供终身的有偿维修服务。
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