X 荧光光谱分析仪 iEDX-150WT
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产品详情
“X 荧光光谱分析仪 iEDX-150WT”参数说明
是否有现货: | 是 | 认证: | 班通 |
类别: | X射线测厚仪 | 品牌: | ISP |
测量产品: | 线路板 | 显示方式: | 显示器 |
型号: | Iedx-150wt | 规格: | 班通 |
商标: | 班通 | 包装: | 班通 |
专利分类: | 班通 | 专利号: | 班通 |
“X 荧光光谱分析仪 iEDX-150WT”详细介绍
镀层检测,镀层检测可达 5 层。 2. 对于薄镀层分析 ,可以 的分析小于 1uin(0.025um)的镀层,可以准确分析 0.2- 0.5uin 的金层。 3. 可同时进行选配 RoHS 检测功能, 的测试 RoHS 指令中的铅、、、铬、、锑、 、等重金属,测试无卤素指令中的、等有害元素。 4. 可同时进行选配镀液药水分析功能,一分钟即可分析出药水内金,,铜等药水含量,分 析精度为 0.01ppm, 5. 可同时进行选配合金成分分析功能。 6. 开槽式超大可移动全自动样品平台 620*525 (长*宽),样品移动距离可达 220*220X10mm(长*宽*高) ;专为线路板行业研制。 7. 激光定位,可以连续自动多点程控测量; 8. 可以选配多准直器系统,单准直器/6 个准直器/7 个准直器。 9. 可检测固体、液体、粉末状态材料; 10.运行及维护、无易损易耗品,对使用环境相对要求低; 11.可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析; 12.操作简单、易学易懂、、高性能、高稳定性,快速出检测结果(20-40 秒); 13.标配德国 AmptekSI-Pin 探测器,选配高精度硅漂移 SDD 探测器,保证测试精度。 14.软件支持无标样分析。
15.相对于传统镀层,开机不需要预热,直接可以测量,测量后可以直接关机,节约用电,减 少关键部件(X 射线管,高压等)消耗,并减少了等待时间。
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