2D锡膏测厚仪(SH-110II)
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“2D锡膏测厚仪(SH-110II)”参数说明
型号: | SH-110II |
“2D锡膏测厚仪(SH-110II)”详细介绍
一、特点:
1)各式厚度量测数值取得统计分析
2)锡膏印刷机及分布数值参考,制程品管检查
3)锡膏印刷厚度长度,高度,间距等良性测量
4)锡膏印刷成型,截面积分析,尺寸量测检查
5)提供其它物品测厚,测长,量测检查;并可提供单点列表,厚度列表X管制图。
二、技术参数:
1)测量原理:非接触式
2)激光线测量精度:±0.002mm
3)重复测量精度:±0.004mm
4)基座尺寸:324mm×320mm
5)移动平台:电磁锁闭平台,附微调把手移动
6)平台尺寸:320mm×320mm
7)移动平台行程:230mm×200mm
8)影像系统:高清彩色CCD摄像头
9)光学放大倍率:30-110×(5档可调)
10)照明系统:高亮度环形LED光源(电脑控制亮度调节)
11)测量光线:可低至5um高精度激光束
12)电源:95-265VAC,50-60Hz
13)系统尺寸:L372×W557×H462(mm)
14)系统重量:约30Kg(不含电脑重量)
15)测量软件:WaltrontechSH-110II/SPC2000(Windows2000/XP)中文简体版,英文版。
本机是由新加坡联合大学开发生产,并采用美国制造的精密激光线发生器, 细线粗可达5微米亮度可调整,是目前同类系统使用的 细激光线,保证了测量的精度和稳定性。软件有英文版,简体中文版。
1)各式厚度量测数值取得统计分析
2)锡膏印刷机及分布数值参考,制程品管检查
3)锡膏印刷厚度长度,高度,间距等良性测量
4)锡膏印刷成型,截面积分析,尺寸量测检查
5)提供其它物品测厚,测长,量测检查;并可提供单点列表,厚度列表X管制图。
二、技术参数:
1)测量原理:非接触式
2)激光线测量精度:±0.002mm
3)重复测量精度:±0.004mm
4)基座尺寸:324mm×320mm
5)移动平台:电磁锁闭平台,附微调把手移动
6)平台尺寸:320mm×320mm
7)移动平台行程:230mm×200mm
8)影像系统:高清彩色CCD摄像头
9)光学放大倍率:30-110×(5档可调)
10)照明系统:高亮度环形LED光源(电脑控制亮度调节)
11)测量光线:可低至5um高精度激光束
12)电源:95-265VAC,50-60Hz
13)系统尺寸:L372×W557×H462(mm)
14)系统重量:约30Kg(不含电脑重量)
15)测量软件:WaltrontechSH-110II/SPC2000(Windows2000/XP)中文简体版,英文版。
本机是由新加坡联合大学开发生产,并采用美国制造的精密激光线发生器, 细线粗可达5微米亮度可调整,是目前同类系统使用的 细激光线,保证了测量的精度和稳定性。软件有英文版,简体中文版。
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