ICS103, FLS102, FLS103 德国LANGER公司开发和生产的三种型号高分辨率电磁兼容扫描仪，能在3线性轴（x,y,z）或者4轴（ 3线性轴：x,y,z和α旋转）运动，分辨率高达5μm，特别适合于集成电路（IC）以及手机等手持终端的电磁干扰扫描。

系统组成

探头（近场微探头）

Langer EMV-Technik 生产的ICR系列近场微探头用于测量磁场或电场近场高分辨率和高灵敏度测试。该探头适用于集成电路（IC）和印刷电路板（PCB）的场测量。

2. 电磁兼容扫描仪

电磁兼容扫描仪，是一个模块化设备系统，用于小片电路表面，焊接线，引脚和纤细模块的电场和磁场近场微探针自动测量。

除了近场微探头的支架，该系统还包括一个4轴定位系统用于引导微探头，一个电机控制器通过电缆连接到设备和模块化的软件。该系统通过USB接口与PC和频谱分析仪直接相连。

组成部分：

1）     3线性轴（x,y,z）或者可选4轴（ 3线性轴：x,y,z和α旋转）上的推进器；

2）     测试板TB 1022（接地平面，受试设备（DUT）支架与连接板CB 0706）；

3）     电机控制器以驱动推进器；

4）     频谱分析仪；

5）     电脑用于ChipScan的控制和操作软件；

软件

软件组成部件操作和控制整个测量配置。设备集中管理和控制。推进器可以用程序或图形化操纵杆进行控制。交互模式下执行测量算法，并且测量结果用三维图形显示。测量数据可以导出，便于应用。

测量算法是基于用户生成的自由可编程扫描的脚本。

配置测量算法是：

 －点扫描（ptp扫描）；

 －线扫描（连续扫描）；

 －表面扫描；

 －体积扫描；








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