Chroma/致茂台湾58620激光半导体特性测试机特色：

• 全自动化检测边射型激光半导体芯片
• 高精密及高容量载具设计
• 自动光纤耦合测试对位设计(Auto-alignment)
• AOI辅助定位，加速测试时间
• 共用载具设计可搭配烧机测试
• 高精密TEC温度控制，稳定度达0.01℃
• 搭配Chroma PXI-Base SMU/Power meter
• 软体分析激光特性: 
  Ith，Rs，Vf，Slope Efficiency，λp等
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激光半导体为高科技产品，价格不斐，多数使用于光通讯/医疗/ 等领域，并 与人类社会息息相关。传统的激光半导体因价格高昂，可靠性要求程度 ，需 要大量的人工与时间来进行光路调整(Alignment)测试与封装后的检测。

Chroma/致茂台湾58620激光半导体特性测试机致茂58620为一全新概念机种，专为激光半导体(Laser Diode)所打造设计，搭配自 动化特性检测All-In-One设计概念，可供不同的测试项目同时进行检测；搭配高 容量的载具设计，可供多颗激光芯片(Chip level)进行大量测试；另外藉由光学定 位辅助(AOI)，可提升自动化检测的速度与可靠性；高稳定性的温控平台设计，可 让研发人员 地了解激光半导体特性与温度的关系。

致茂58620 可应用于研发单位小量试产验证( Laboratory ) 或是生产单位 (Production)，可有效提高激光半导体测试产出率(Throughput)。

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