芯茂科技 晶圆边缘检测 轮廓仪
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产品详情
“芯茂科技 晶圆边缘检测 轮廓仪”参数说明
型号: | Egpro-512 | 商标: | 芯茂 |
测量范围: | 2-12英寸 | 产量: | 2 |
“芯茂科技 晶圆边缘检测 轮廓仪”详细介绍
芯茂科技 晶圆边缘检测 轮廓仪基本介绍
以非接触的自动测量方式对倒角后的
edge
和
notch
两种晶圆的形
状与尺寸进行测定。
芯茂科技 晶圆边缘检测 轮廓仪性能特点
·设备可以对
2
英寸
wafer
到
12
英寸
wafer
进
行自
动测
量。
·
测量是在晶圆操作台上以非接触的方式进行。
·可测定部分
:
边缘,槽口(
notch
)和
OF
边的长度(
OPTION
)
·搭载电脑控制系统,测量结果可保存在各种外部记忆媒体。
·具备
LAN
连接功能,测量数据可以随时在
network
范围内查阅
芯茂科技 晶圆边缘检测 轮廓仪技术参数
芯茂科技 晶圆边缘检测 轮廓仪使用说明
芯茂科技 晶圆边缘检测 轮廓仪采购须知
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